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產(chǎn)品展示/ Product display

  • X-射線鍍層測(cè)厚儀

    它還采用*的焦距距離計(jì)算辦法(DCM)， 操作員現(xiàn)在可以隨時(shí)改變焦距測(cè)量， 對(duì)一些形狀復(fù)雜的工件尤其方便。

    更新時(shí)間

    2025-10-25

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

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  • ts-80X-謝線鍍層測(cè)厚及金屬分析儀/螢光X線膜厚計(jì)

    FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)ASTM及B568，DIN60987， ISO3497的X一射線熒光分析法來(lái)進(jìn)行測(cè)量， 下但可以測(cè)量金屬層厚度及金屬之間的比重， 還可以進(jìn)行金屬物料分析。

    更新時(shí)間

    2025-10-25

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