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PCT老化試驗箱獨立蒸汽發(fā)生室，能避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品

更新時間：2023-03-17      瀏覽次數(shù)：935
　　PCT老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
　　
　　PCT老化試驗箱設備特點：
　　
　　1.采用進口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，在很大程度上降低了使用故障率。
　　
　　2.獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。
　　
　　3.門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
　　
　　4.試驗前排冷空氣；試驗中排冷空氣設計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
　　
　　5.超長效實驗運轉(zhuǎn)時間，長時間實驗機臺運轉(zhuǎn)1000小時.
　　
　　6.水位保護，透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護.
　　
　　7.耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.
　　
　　8.二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機械式壓力保護裝置.
　　
　　9.安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕
　　
　　10.全觸控式控制器，支持U盤導出歷史記錄

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