PCT高壓加速老化試驗箱與HAST試驗箱的區(qū)別
更新時間：2020-12-28 點擊次數(shù)：1332次
PCT高壓加速老化試驗箱與HAST試驗箱主要作用是用來測試半導體封裝的濕氣能力，待測產品被置于嚴苛的溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體.廣泛應用于多層線路板，IC封裝，LED屏幕，LED，半導體，磁性材料，釹鐵硼，稀土等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性.常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境因素(如:溫度)與工作因素(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
那么PCT高壓加速老化試驗箱與HAST試驗箱到底有些什么區(qū)別，為方便客戶選型,艾思荔檢測儀器做出以下簡單描述，希望能夠幫到客戶選型:
PCT高壓加速老化試驗箱的主要功能是:壓力是對應溫度飽和壓力顯示，濕度也是對應該溫度條件下的飽和蒸汽壓力。換句話說飽和蒸汽溫度、飽和蒸汽濕度、飽和蒸汽壓力是相對應的。
HAST試驗箱的主要功能是:溫度，壓力，濕度隨用戶試驗條件都可以調節(jié)，不受飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度的影響，即為非飽和控制。換句話說:試驗溫度，壓力，濕度隨用戶試驗條件是可以調節(jié)。此時會存在一個問題:非飽和狀態(tài)下的濕度的準確性的問題，艾思荔檢測儀器所使用的濕度檢測裝置是根據(jù)試驗箱內真實環(huán)境通過干濕球對比出來顯示和控制的，不是通過換算關系顯示出來并控制，其準確性可以得以保障。
